• 第五屆IEEE國際測試會議亞洲分會(ITC-Asia 2021)成功舉辦

    發布時間:2021-08-30  閱讀次數:2507
           由IEEE電子設計自動化協會(CEDA)、中國計算機學會(CCF)、同濟大學和IEEE計算機協會(CS)聯合主辦,IEEE測試工藝技術委員會(TTTC)、IEEE硬件安全和信任技術委員會(HSTTC)、CCF容錯計算專業委員會共同協辦的第五屆IEEE國際測試會議亞洲分會(ITC-Asia 2021)于2021年8月18-20日在線上召開。本次會議注冊人數達到230人(來自亞洲歐洲和北美洲的11個國家和地區,外籍參會人員65人),是本年度國內集成電路測試領域規模最大、規格最高、影響最廣的一次科技盛會。
     
     
           同濟大學軟件學院副院長江建慧教授和瑞典林雪平大學計算機和信息科學系副主任彭澤波(Zebo Peng)教授擔任ITC-Asia 2021大會主席,美國馬里蘭大學屈剛(Gang Qu)教授(IEEE Fellow)、中國科學院計算技術研究所葉靖副研究員和同濟大學軟件學院張穎副教授擔任ITC-Asia 2021程序主席。
     
           在開幕式上,彭澤波教授和屈剛教授代表組委會宣布ITC-Asia 2021正式召開并介紹了大會的組織情況和大會程序。IEEE CEDA主席張耀文(Yao-Wen Chang)教授(IEEE Fellow)、IEEE TTTC理事長Yervant Zorian博士(IEEE Fellow)、CCF監事長李曉維研究員和本年度IEEE國際測試會議(ITC)大會主席Jennifer Dworak教授也分別致賀辭。
     
           本次會議邀請到六位國際學術界和工業界知名專家做大會報告,分別是來自清華大學的魏少軍教授(IEEE Fellow),來自華為的顧新理博士,來自香港中文大學的徐強教授,來自香港科技大學的鄭光廷教授(IEEE Fellow),來自美國杜克大學的Krishnendu Chakrabarty教授(IEEE Fellow)和來自ANSYS公司的Norman Chang博士。
     
           ITC-Asia 2021會議擁有非常豐富的技術程序,包含了兩個來自TTTC的Tutorial教育講座、三個學術論文分組會議(RS)、四個工業界技術應用論壇(IS)和五個特別專題分組會議(SS)。
     
           在這場盛會中,參會者不僅交流了最先進的測試技術趨勢,還共同研討了眾多行業/熱門話題。論文Automatic Test Program Generation for Transition Delay Faults in Pipelined Processors (by Kai-Hsun Chen, Bo-Yi Yang, Jia-Ruai Liang, Hung-Lin Chen, and Jiun-Lang Huang from National Taiwan University) 榮獲ITC-Asia 2021 Cadence Best Paper Award (最佳論文獎)。大會同時宣布ITC-Asia 2022將在中國臺灣舉行。
     
           歡迎大家訪問ITC-Asia 2021會議網址http://www.108ccx.cn/ITC-Asia2021/,注冊參會人員可以在https://www.aconf.org/conf_180631/program.html查詢會議論文和報告錄像。

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